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지식재산처 "기술경찰이 기술유출 사범 구속해 공소청이 기소한 제1호 사건"
[지식재산처 제공. 재판매 및 DB 금지]
(대전=연합뉴스) 김준호 기자 = 지식재산처와 대전지방공소청은 반도체 검사 핵심기술을 빼돌려 해외 생산에 사용한 혐의(부정경쟁방지법위반 및 산업기술보호법위반 등)로 피해기업 전 직원 A(45) 씨를 구속 기소하고, B(40) 씨와 C(40) 씨를 불구속기소 했다고 14일 밝혔다.
또 해외로 도주한 전 임원이면서 현재 해외 제조기업 사장인 D(58) 씨를 지명수배했다.
지식재산처 기술경찰에 따르면 A씨 등은 2023년 11월부터 올해 2월까지 국내 피해기업의 현지 유통을 담당하는 해외 유통기업과 공모해 해외 제조기업을 설립하고, 국내 피해기업의 '반도체 검사 핵심기술' 설계 도면과 자료를 사용해 제품을 생산하고 이를 해외에 공급한 혐의를 받고 있다.
조사 결과 피해기업의 전 생산관리팀장인 A씨와 엔지니어들인 B·C씨는 D씨의 제안으로 기존 연봉 2배를 받고 2023년 11월 D씨가 사장인 해외 제조기업으로 이직한 것으로 드러났다.
이들은 피해기업의 '프로브카드 기술'을 사용해 제작한 시제품을 지난해 12월 해외에 공급한 것으로 조사됐다.
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프로브카드 기술은 반도체 칩의 불량 여부를 웨이퍼 상태에서 검사하는 반도체 검사장비로, 미국과 일본 기업 등이 시장을 선점해 온 분야다.
피해기업은 국산화에 성공했고 고대역폭 메모리(HBM) 검사용 장비까지 개발해 국내 및 해외 주요 반도체 대기업에 제품을 공급해 왔다. 피해기업은 이들의 범행으로 인해 해외 시장을 상실할 경우 연간 400억 원의 매출 손실이 발생할 것으로 추산했다.
이번 사건은 지식재산처 기술경찰이 해외 기술유출 사범을 구속해 공소청이 기소한 제1호 사건이라고 지식재산처는 설명했다.
정연우 지식재산처 차장은 "기술 유출 사범을 검거하는 것도 중요하지만, 기술 유출을 사전에 차단하는 것이 더욱 중요하다"며 "철저한 수사로 국외 기술 유출범죄에 엄정히 대응하는 한편 사전유출 차단을 위해 처벌 수위 강화 및 범행에 가담한 해외기업도 처벌할 수 있게 제도 개선을 추진하겠다"고 말했다.
kjunho@yna.co.kr
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